環(huán)境試驗(yàn)檢測(cè)設(shè)備的現(xiàn)狀

環(huán)境試驗(yàn)檢測(cè)設(shè)備的現(xiàn)狀

     環(huán)境試驗(yàn)檢測(cè)設(shè)備是在試驗(yàn)室內(nèi)用人工方法模擬一種或多種嚴(yán)酷環(huán)境的組合試驗(yàn)設(shè)備，是研制、開(kāi)發(fā)新產(chǎn)品和檢驗(yàn)產(chǎn)品質(zhì)量性能的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備。是我們所*的檢驗(yàn)試驗(yàn)設(shè)備。所以正確使用和維護(hù)環(huán)境與靠性試驗(yàn)設(shè)備尤其重要。

     目前環(huán)境試驗(yàn)檢測(cè)設(shè)備大多是為了滿足國(guó)標(biāo)GB2423《電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程》而生產(chǎn)的，這些環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備現(xiàn)都有相應(yīng)的產(chǎn)品國(guó)標(biāo)，如 GB10586-89《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》 GB10589-89《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》 GB10591-89《高/低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》 GB10591-89《高/低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》等。

      八十年代以前，我國(guó)使用的大多數(shù)環(huán)境試驗(yàn)檢測(cè)設(shè)備都是從西方國(guó)家引進(jìn)的，價(jià)格比較昂貴，而如今，隨著電子技術(shù)的發(fā)展，特別是控制技術(shù)的發(fā)展，從模擬控制到現(xiàn)在的數(shù)字控制；顯示方式從指針到數(shù)字再到現(xiàn)在的觸摸屏顯示；控制精度從1℃提高到0.1℃甚至于0.01℃之內(nèi)；設(shè)備體積從很小的箱體，到幾百立方大的房（室），我國(guó)的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備生產(chǎn)廠家已經(jīng)能生產(chǎn)符合試驗(yàn)要求的設(shè)備。性能以與進(jìn)口設(shè)備相媲美，而價(jià)格只有進(jìn)口設(shè)備一半左右。但某些特殊設(shè)備，如溫度沖擊設(shè)備、溫度快速變化（15℃/min）還不能國(guó)產(chǎn)化或生產(chǎn)的設(shè)備不能符合要求。