美國(guó)ISO 12103-1 A4 粗試驗(yàn)粉塵 PTI試驗(yàn)粉塵雜質(zhì)（ISO 12103-1 A1 超細(xì)試驗(yàn)粉塵，ISO 12103-1 A2 精細(xì)試驗(yàn)粉塵，ISO 12103-1 A3 中級(jí)試驗(yàn)粉塵，ISO 12103-1 A4 粗試驗(yàn)粉塵），DMT試驗(yàn)粉塵雜質(zhì)，JIS試驗(yàn)粉塵雜質(zhì)，美國(guó)亞利桑那試驗(yàn)粉塵#IEC 60312試驗(yàn)粉塵#ISO 12103試驗(yàn)粉塵

美標(biāo)石英砂ASTM 20/30 C778標(biāo)準(zhǔn)砂：美標(biāo) ASTM 20/30 進(jìn)口標(biāo)準(zhǔn)石英砂 ASTM系列符合美國(guó)ASTM測(cè)試方法的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)砂

粘度計(jì)測(cè)試砂 進(jìn)口試驗(yàn)粉塵 用于電子產(chǎn)品,特別是連接器的耐塵測(cè)試.試驗(yàn)粉塵燃料污染測(cè)試粉塵有相當(dāng)?shù)慕?jīng)驗(yàn)，能滿足英國(guó)，歐盟，美國(guó)，日本和標(biāo)準(zhǔn)。

美國(guó)進(jìn)口試驗(yàn)粉塵EN196-1標(biāo)準(zhǔn)砂用于電子產(chǎn)品,特別是連接器的耐塵測(cè)試.試驗(yàn)粉塵燃料污染測(cè)試粉塵有相當(dāng)?shù)慕?jīng)驗(yàn)，能滿足英國(guó)，歐盟，美國(guó)，日本和標(biāo)準(zhǔn)。

美國(guó)DIN 1164/58標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試砂用于電子產(chǎn)品,特別是連接器的耐塵測(cè)試.試驗(yàn)粉塵燃料污染測(cè)試粉塵有相當(dāng)?shù)慕?jīng)驗(yàn)，能滿足英國(guó)，歐盟，美國(guó)，日本和標(biāo)準(zhǔn)。

美國(guó)試驗(yàn)粉塵,106-212μm微米粉塵：區(qū)間尺寸指的是0-5微米的亞利桑那試驗(yàn)粉塵，PTI還提供0至尺寸以及區(qū)間尺寸的亞利桑那試驗(yàn)粉塵。